Sistemas de TC por rayos X satisfacen diversas necesidades de inspección
La familia de sistemas de inspección por tomografía computarizada (TC) de rayos X de próxima generación denominada VOXLS está diseñada para diversas necesidades de inspección.
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Editado por Eduardo Tovar
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La familia VOXLS incluye el VOXLS 40 C 450 de gran volumen que ya está en el mercado, y cuatro modelos de tamaño medio que estarán disponibles a finales de este año. / Crédito: Nikon Metrology.
Nikon Metrology anuncia el lanzamiento de su familia de sistemas de inspección por tomografía computarizada (TC) de rayos X de próxima generación denominada VOXLS (VOlumemetric X-ray Leading Solutions).
Diseñada para diversas necesidades de inspección, la familia VOXLS incluye el VOXLS 40 C 450 de gran volumen que ya está en el mercado, y cuatro modelos de tamaño medio que estarán disponibles a finales de este año.
El buque insignia VOXLS 40 C 450, que ofrece precisión, resolución y velocidad de exploración mejoradas, inspecciona artículos de diversos tamaños y densidades.
Sus características distintivas, como las fuentes de rayos X de microenfoque dual (una de 450 kV para penetrar en piezas grandes o densas y la otra de 225 kV para examinar componentes más pequeños o de menor densidad) y la tecnología de objetivo giratorio exclusiva de Nikon, proporcionan una captura de imágenes flexible y de resolución máxima para una amplia gama de aplicaciones de control de calidad.
La cabina de una sola pieza puede alojar ensamblajes de hasta 1,275 mm de diámetro × 1,800 mm de altura y la envolvente de escaneo de 800 mm de diámetro × 1,415 mm de altura.
El VOXLS 30 C 225 y el VOXLS 30 M 225 funcionan con la fuente de microfocalización de 225 kV y el Rotating.Target 2.0 de Nikon. La empresa afirma que estos sistemas, destacados en entornos de taller y de I+D, inspeccionan componentes como piezas metálicas de manufactura aditiva.
Mientras que el VOXLS 30 C 225 tiene un movimiento síncrono de la fuente y el detector, el VOXLS 30 M 225 es un sistema de tipo puente con fuente y altura del detector fijas.
Diseñado para equiparse con un cargador automático interno, almacena múltiples muestras, de modo que los lotes de componentes puedan escanearse e inspeccionarse sin la intervención de los operadores.
Los VOXLS 30 C 450 y VOXLS 30 M 450 ofrecen hasta 450 kV de potencia de rayos X para examinar eficazmente muestras gruesas y densas. Las muestras pueden escanearse sin la intervención de los operadores y liberar al personal para otras tareas, además de facilitar el funcionamiento desatendido, lo que se traduce en un aumento de la productividad.
Ambos sistemas también son compatibles con la inspección totalmente automática en bucle cerrado a alta velocidad en un entorno de línea de producción de calidad 4.0.
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