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03/07/2018

Dispositivos de medición de rugosidad y contornos mejoran la velocidad

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IMTS 2018: La serie Waveline W800 de dispositivos de medición de rugosidad y contornos de Jenoptik incluye cuatro configuraciones.

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La serie Waveline W800 de dispositivos de medición de rugosidad y contornos de Jenoptik incluye cuatro configuraciones. Una unidad transversal de 120 mm y una columna de medición vertical de 500 mm están incluidas en las configuraciones básicas.

Los nuevos modelos tienen una velocidad de recorrido del eje seis veces más rápida que los modelos anteriores. Puede filtrarse aproximadamente 30 por ciento más del ruido del ambiente respecto a los resultados de modelos existentes. La serie ofrece un sistema de sondeo para una amplia variedad de tareas de medición en el cuarto de medición, incluidos procesos de medición manuales o semiautomatizados. Los sistemas de sondeo pueden intercambiarse usando un adaptador magnético de cambio rápido para dar flexibilidad en rutinas de medición diarias. Los componentes de la estación de medición son modulares y pueden expandirse después o integrarse en sistemas de medición existentes.

Los instrumentos de medición de la compañía incluyen modelos que trabajan en múltiples corridas de medición, así como modelos que miden en un solo paso de sondeo. También están disponibles sistemas móviles y estacionarios para tareas de medición, sencillas o complejas.

JENOPTIK INDUSTRIAL METROLOGY, STAND E-135536

 

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